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    雙折射測量儀PA-300-L

    • 型 號：
    • 訪問次數：2708
    • 更新時間：2024-09-03
    • 價   格：

    雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其*技術的光子晶體偏光陣列片，雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

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    雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其*技術的光子晶體偏光陣列片，雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

    雙折射測量儀PA-300-L主要特點：

    • 操作簡單，測量速度可以快到3秒。

    • 視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。

    • 更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。

    • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

    • 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

    • 高達2056x2464像素的偏振相機。

    雙折射測量儀PA-300-L應用領域：

    • 光學鏡片

    • 智能手機玻璃基板

    • 藍寶石、硅晶圓

    • 人工晶體等等

    技術參數：

    項次項目 具體參數
    1 輸出項目 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】

    2測量波長520nm

    3雙折射測量范圍0-130nm

    4測量最小分辨率0.001nm

    5測量重復精度<1nm

    6視野尺寸40x48mm到240x320mm（標準）

    7選配鏡頭視野不適用

    8選配功能    實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制


    測量案例：
    復印機鏡頭測量藍寶石測量單反相機鏡頭測量



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