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    雙折射測量儀PA-300-L

    • 型 號:
    • 訪問次數:2233
    • 更新時間:2024-03-13
    • 價   格:

    雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其*技術的光子晶體偏光陣列片,雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

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    雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其*技術的光子晶體偏光陣列片,雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

    雙折射測量儀PA-300-L主要特點:

    • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。

    • 視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。

    • 更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。

    • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

    • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。

    • 高達2056x2464像素的偏振相機。

    雙折射測量儀PA-300-L應用領域:

    • 光學鏡片

    • 智能手機玻璃基板

    • 藍寶石、硅晶圓

    • 人工晶體等等

    技術參數:

    項次項目 具體參數
    1 輸出項目 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】

    2測量波長520nm

    3雙折射測量范圍0-130nm

    4測量最小分辨率0.001nm

    5測量重復精度<1nm

    6視野尺寸40x48mm到240x320mm(標準)

    7選配鏡頭視野不適用

    8選配功能    實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制


    測量案例:
    復印機鏡頭測量藍寶石測量單反相機鏡頭測量



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