紅外應力雙折射測量系統

• 型 號：WPA-NIR
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• 更新時間：2024-03-13
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紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。

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紅外應力雙折射測量系統主要特點：

硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。

• 紅外波長的雙折射/相位差面分布測量

• 硫系、紅外透明樹脂等的光學畸變評估

• 小型、簡単操作、高速測量

• WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布

• 安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View

• 可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區域內的平均值等的定量數據

• 可搭配流水線對應的『外部控制選配』，也可應用于量產現場

紅外應力雙折射測量系統主要功能：

• NIR波長僅需操作鼠標數秒內就能獲取高密度的雙折射/相位差信息

• 測量數據的保存/讀取簡單快捷

• 全部的測量結果都可以做保存/讀取，易于跟過去的測量結果做比較等

• 豐富的圖形創建功能

• 可以自由制作線圖形和直方圖

• 測量結果可以在一個圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出  

主要參數：

實際測量對比：