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    雙折射測量儀PA-Micro

    • 型 號：
    • 訪問次數：5121
    • 更新時間：2025-01-24
    • 價   格：

    雙折射測量儀PA-Micro操作簡單，測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。高達2056x2464像素的偏振相機。

    分享到：

    PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

    雙折射測量儀PA-Micro主要特點：

    • 操作簡單，測量速度可以快到3秒。

    • 視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。

    • 更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。

    • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

    • 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

    • 高達2056x2464像素的偏振相機

    雙折射測量儀PA-Micro應用領域：

    • 通信光纖

    • 晶體

    • 醫學細胞


    技術參數：

    項次

    項目            

    具體參數

    1

    輸出項目

    相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】


    2

    測量波長

    520nm


    3

    雙折射測量范圍

    0-130nm


    4

    測量小分辨率

    0.001nm


    5

    測量重復精度

    <1nm（西格瑪）


    6

    視野尺寸

    142x170um到3.5x4.2mm
    (×2，×5，×10，×20，×50)


    7

    選配鏡頭視野

    無


    8

    選配功能    

    實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制


    測量案例：


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