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    雙折射測量儀PA-Micro

    • 型 號:
    • 訪問次數:5121
    • 更新時間:2025-01-24
    • 價   格:

    雙折射測量儀PA-Micro操作簡單,測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。高達2056x2464像素的偏振相機。

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    PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

    雙折射測量儀PA-Micro主要特點:

    • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。

    • 視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。

    • 更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。

    • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

    • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。

    • 高達2056x2464像素的偏振相機

    雙折射測量儀PA-Micro應用領域:

    • 通信光纖

    • 晶體

    • 醫學細胞


    技術參數:

    項次

    項目            

    具體參數

    1

    輸出項目

    相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa


    2

    測量波長

    520nm


    3

    雙折射測量范圍

    0-130nm


    4

    測量小分辨率

    0.001nm


    5

    測量重復精度

    <1nm(西格瑪)


    6

    視野尺寸

    142x170um3.5x4.2mm
    (×2,×5,×10,×20,×50)


    7

    選配鏡頭視野


    8

    選配功能    

    實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制


    測量案例:


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