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    • PI-300/WPI-300偏振相機

      更新時間:2025-01-24

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      PI/WPI偏振相機能夠獲得實時的偏振信息,作為一個正常的圖像,并在高分辨率。$n它們被應用在許多領域,包括利用偏振特征識別暗物體,激光光束的實時偏振監測等。$n除了PI功能可以記錄線偏振度(DOLP)和主軸方向角,WPI還可以全面記錄Stokes參數和偏振度(DOP),這在部分偏振情況下是必要的。
    • PA300玻璃應力雙折檢測系統

      更新時間:2025-01-24

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      玻璃應力雙折檢測系統PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術開發的產品,*的測量技術,高速而又的測量3D玻璃,晶體等產品的雙折射效應,得出的相位差數值,從而量化出產品應力數值,在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。廣泛應用于手機3D玻璃的研發,生產,質量測試中。
    • WPA-micro顯微鏡型相位差測量儀

      更新時間:2025-01-24

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      顯微鏡型相位差測量儀WPA-micro操作簡單,測量速度可以快到3秒,?采用CCD Camera,視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。?測量數據是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數據。?具有多種分析功能和測量結果的比較。?維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。
    • WPA-200-L應力雙折射測量系統

      更新時間:2025-01-24

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      應力雙折射測量系統WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術開發的產品,*的測量技術,高速而又精q的測量能力使其成為不可多得的光學測量產品。 該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布??蓽y數千nm高相位差分布的萬用機器,Z適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。
    • PA系列玻璃應力雙折射測量系統

      更新時間:2025-01-24

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      玻璃應力雙折射測量系統PA系列分布測量儀:理想的光學玻璃是各向同性的,但在退火過程中由于玻璃內外溫度不同,或者退火爐內各處溫度不等都會產生內應力。光學玻璃內應力的存在,破壞了各向同性,產生雙折射現象,即內部應力的分布現象,現在利用測量雙折射現象來改進光學玻璃的生產工藝,以及用來對光學玻璃的質量控制,成為世界光學玻璃廠商的手段。
    • PA200;PA200-L雙折射儀-應用3D玻璃

      更新時間:2025-01-24

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      雙折射儀對玻璃等低相位差的雙折射分布測量,在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。
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