online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版，可升級STS 。 操作簡單，可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。 記錄雙折射的數值數據，以進行進一步詳細分析。

在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM,適用于薄膜等生產線上，實現各個環節的雙折射測量。 LIVE實時輸出雙折射的信息。 OK/NG可以在執行Live監測的同時對異常點發出警報。實時記錄雙折射的數值數據，以進行進一步詳細分析?？梢酝ㄟ^在系統中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。

online雙折射測量儀KAMAKIRI W 適用于薄膜等生產線上，實現各個環節的雙折射測量 LIVE實時輸出雙折射的信息 OK/NG可以在執行Live監測的同時對異常點發出警報 操作簡單，可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布 實時記錄雙折射的數值數據，以進行進一步詳細分析。 可以通過在系統中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。

歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備，其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結合，研制在線雙折射/殘余應力測量儀，世界上僅有online雙折射測量儀KAMAKIRI可以提供，廣泛應用于光學薄膜，PVA,PC,COP和TAC等領域。

雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其*技術的光子晶體偏光陣列片，雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

ME-210-T膜厚測量儀為一種光學系膜厚測量裝置，這個裝置的特點是可以高精度測量1nm一下的極薄膜，也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術，將不能變為可能，以往的技術是無法測量0.5mm厚的玻璃基板，在這項技術下，可進行極薄膜的高精度測量，舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估，也可運用ME-210-T輕松達成。